From: 宍戸 厚
13 Nov 2009 15:06:16 +0900
全フォーラム合同 液晶基礎講座～計測編～のご案内
液晶に関わる材料・デバイスの新機能発現および高性能化において，物性計測の重要性はいうまでもありません。なかでも，基礎および原理の理解は，新たな計測法を活用するきっかけになるだけでなく，研究に異なる視座を与える可能性も含んでいます。このたび，昨年好評を博した液晶光学基礎講座をさらに発展させ，全フォーラム合同として液晶基礎講座～計測編～を企画いたしました。光・電気から放射光まで多彩な分野の先生方をお招きして基礎から教えて頂きます。最近液晶を始めた学生や社会人から，基礎から勉強したいベテランまで幅広く多数のご参加をお待ちしております。
日時：平成21年12月4日(金) 13:30 – 17:00
場所：東陽テクニカセミナー室（東京八重洲）
　　　http://www.toyo.co.jp/page.jsp?id=3857
参加費： 正会員：2000円，非会員：5000円，学生：無料
講演プログラム (敬称略)：
13:30 – 13:35 開会挨拶
14:35 – 14:35 LEDバックライトの測定 (仮)
　　　　　　　　　大塚電子(株) 大久保和明
14:45 – 15:45 放射光を利用したソフトマターの構造評価
　　　　　　　　　財団法人高輝度光科学研究センター 佐々木園
15:55 – 16:55 液晶セルの電気特性計測 (仮)
　　　　　　　　　(株)東陽テクニカ 井上勝
16:55 – 17:00 閉会挨拶
17:30 – 懇親会 （希望者実費）
申込先および問い合わせ先：川本益揮 jlcs.photonics@gmail.com
以下をご記入の上メールにて早めにお申し込みください。
（11/26以降のお申し込みについては予稿集をお配りできない可能性があります）
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ご氏名：
ご所属（学生の方は研究室名まで）：
メールアドレス：
電話番号：
会員種別：正会員・非会員・学生会員・学生非会員
懇親会参加：参加・不参加
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最新情報は液晶学会HPをご覧下さい。
　　　http://wwwsoc.nii.ac.jp/jlcs/Forum/photo/LC_photonics_top.htm
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JLCS-News http://www.jlcs.jp/NW-service/jlcs-news/
発信者： 宍戸 厚